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JB/T 8537-2023 粉塵比電阻實(shí)驗(yàn)室測(cè)試方法

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)別：[JB] 機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：JB/T 8537-2023 粉塵比電阻實(shí)驗(yàn)室測(cè)試方法
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時(shí)間：2024-04-19
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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本文件規(guī)定了粉塵比電阻實(shí)驗(yàn)室測(cè)試原理、測(cè)試裝置、測(cè)試程序和測(cè)試報(bào)告。本文件適用于比電阻小于103Ω·cm導(dǎo)電性粉塵的實(shí)驗(yàn)室圓盤(pán)法比電阻測(cè)試活動(dòng)。替代JB/T 8537-2010

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