SY/T7410的本部分規(guī)定了聚焦離子束切片技術(shù)測(cè)定巖石三維孔隙結(jié)構(gòu)的方法及質(zhì)量要求。
本部分適用于巖石樣品的微一納米級(jí)孔隙結(jié)構(gòu)分析。Y/T 7410.2-2020 巖石三維孔隙結(jié)構(gòu)測(cè)定方法 第2部分：聚焦離子束切片法 3D pore structure characterization of rocks- 　　　　　　Part 2: FIB-SEM method 2020-10-23發(fā) 布 2021-02-01實(shí) 施 國(guó)家能源局發(fā)布 SY/T 7410.2-2020 目 次 刖 青 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ m 1范 圍 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 1 2規(guī) 范 性 引 用 文 件 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ 1