本文件規(guī)定了宇航用抗輻射加固集成電路單元庫(以下簡稱“加固單元庫”)的組成、輻射效應(yīng)建模與仿真、加固單位庫設(shè)計、設(shè)計套件的設(shè)計和驗證、加固單元庫的驗證、加固單元庫手冊編制等要求。 本文件適用于體硅/SOI CMOS工藝的加固單元庫設(shè)計，以及產(chǎn)品研制前對加固單元庫的綜合評價。 標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 43228-2023 標(biāo)準(zhǔn)名稱：宇航用抗輻射加固集成電路單元庫設(shè)計要求 英文名稱：Design requirements for space radiation-hardened integrated circuit standard cell library 發(fā)布日期：2023-09-07 實施日期：2024-01-01 出版語種：中文簡體 標(biāo)準(zhǔn)分類號 標(biāo)準(zhǔn)ICS號：49.140 中標(biāo)分類號：V25 關(guān)聯(lián)標(biāo)準(zhǔn) 替代以下標(biāo)準(zhǔn)：無 被以下標(biāo)準(zhǔn)替代：無 引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 9178-1988 起草人：趙元富、王亮、岳素格、周亮、孫永姝、李同德、林建京、趙曦、王慜、劉征宇 起草單位：北京微電子技術(shù)研究所、中國航天電子技術(shù)研究院 歸口單位：全國宇航技術(shù)及其應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 425)