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GB/T 42706.2-2023 電子元器件半導(dǎo)體器件長(zhǎng)期貯存第2部分：退化機(jī)理

標(biāo)準(zhǔn)類別：[GB] 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：GB/T 42706.2-2023 電子元器件半導(dǎo)體器件長(zhǎng)期貯存第2部分：退化機(jī)理
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時(shí)間：2023-10-27
下載次數(shù)：次

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

本文件描述了電子元器件在實(shí)際貯存條件下隨時(shí)間推移的退化機(jī)理和退化方式，以及評(píng)估一般退化機(jī)理的試驗(yàn)方法。通常本文件與IEC 62435-1一起使用，用于預(yù)計(jì)貯存時(shí)間超過(guò)12個(gè)月的長(zhǎng)期貯存器件。特定類型電子元器件的退化機(jī)理在IEC 62435-5～I(xiàn)EC 62435-9中加以規(guī)定。

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