首頁(yè) > 標(biāo)準(zhǔn)下載>JIS C3660-503-2019 電纜和光纜--非金屬材料的試驗(yàn)方法--第503部分：機(jī)械試驗(yàn)--護(hù)套的收縮試驗(yàn) Electric and optical fibre cables -- Test methods for non-metallic materials -- Part 503: Mechanical tests -- Shrinkage test for sheaths免費(fèi)下載

JIS C3660-503-2019 電纜和光纜--非金屬材料的試驗(yàn)方法--第503部分：機(jī)械試驗(yàn)--護(hù)套的收縮試驗(yàn) Electric and optical fibre cables -- Test methods for non-metallic materials -- Part 503: Mechanical tests -- Shrinkage test for sheaths

標(biāo)準(zhǔn)類別：
標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)：JIS C3660-503-2019
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時(shí)間：2023-10-13
下載次數(shù)：次

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標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

この規(guī)格は，電線，光ファイバ及びそれらからなるケーブルに用いるシースの収縮試験方法について規(guī)定する。 3660-503: 2019 (I EC 60811-503: 2012) (JCMA/JSA) 、令和元年 11月 20日制定日本産業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會(huì)審議（日本規(guī)格協(xié)會(huì)発行）著作催法により無(wú)斷での挫製，転赦等は禁止されております． C 3660-503: 2019 (IEC 60811-503: 2012) 日本産業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會(huì)標(biāo)準(zhǔn)第二部會(huì)構(gòu)成表氏名所屬（部會(huì) 長(zhǎng) ）大崎博之東京大學(xué) （委員）青柳恵美子公益社団法人日本消費(fèi)生活アドバイザー？コンサルタント？相談員協(xié)會(huì) 伊藤智一般社団法人情報(bào)処理學(xué)會(huì)情報(bào)規(guī)格調(diào)査會(huì)（國(guó)立研究開発法人新エネルギー？産業(yè)技術(shù)総合開発機(jī)構(gòu)）巖測(cè)幸吾

標(biāo)準(zhǔn)截圖

上一條：SJ 21447-2018 CdSe-N-T01型紅外固體激光器用硒化鎘單晶材料規(guī)范 Specification for cadmium selenide monocrystal of CdSe-N-T01 used for infrared solid state laser

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