本標準規(guī)定了半導體集成電路低電壓差分信號（LVDS,low voltage differential signaling）電路（以下稱為“器件”）靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)測試方法的基本原理。
本標準適用于低電壓差分信號電路靜態(tài)參數(shù)、動態(tài)參數(shù)的測試。GB/T 35007-2018 　　　半導體集成電路 低電壓差分信號電路測試方法 　 　 　 　 　 　 　 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry 2018-03-15發(fā) 布 2018-08-01實 施 　 　 　 　 　 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 去 眾 丫 、 村 中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會 ‘ GB/T 35007-2018 目 次 刖 言 ？？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ ？ m 1范 圍 ？...............