本標準給出并解釋了故障掩蔽在與一個執(zhí)行診斷的邏輯單元（K）連接的多個串聯(lián)無電勢觸點聯(lián)鎖裝置(B1-Bn）的原理（見圖1～圖7)。本標準還進一步給出了如何估計故障掩蔽的概率以及所涉及聯(lián)鎖裝置最大DC值的指南．本標準只適用于兩個通道均為物理串聯(lián)的聯(lián)鎖裝置。
本標準有以下兩個用途：
——給使用者提供估計最大DC值的指南；
——作為SRP/CS設計指南。
注1：帶集成自監(jiān)測功能的聯(lián)鎖裝置不屬于本標準的范圍。
注2：邏輯單元采用的診斷方法也提出了限制。
注3：本標準并不局限用于機械致動式位置傳感器。GB/T 37157-2018/ISO/TR 24119:2015 機械安全串聯(lián)的無電勢觸點聯(lián)鎖裝置 　　　　　故障掩蔽的評價 Safety of machinery-Evaluation of fault masking serial connection of 　 　 　 　 　 interlocking devices with potential free contacts (ISO/TR 24119:2015, Safety of machinery-Evaluation of fault masking 　 serial connection of interlocking devices associated with guards with 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　 　potential free contacts,IDT) 2018-12-28發(fā) 布 2019-07-01實 施 廠“氣國家市場監(jiān)督管理總局翟于士 ？ 潞蹭妒中國國家標準化管理委員會oc -1IJ ＼ 貯 竺 吵 GB