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GB/T 7581-1987 半導(dǎo)體分立器件外形尺寸 Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 7581-1987
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時間:2023-06-12
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體分立器件的外形尺寸。專不口國I國家標(biāo)尋隹 GB 7581-87 半導(dǎo)體分立器件外形尺寸 Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices 1987-03-21發(fā) 布 1987-11-01實 施 匡 1家 才 示 ; 住 居 發(fā) 布 中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn) 半導(dǎo)體分立器件外形尺寸 Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體分立器件的外形尺寸 。 一般要求 1。 1尺寸和公差 1.1.1外形尺寸包括器件機(jī)械互換性所要求的全部尺寸。 1.1.2本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的外形尺寸 ( 圖1~圖61) 適用于管殼成品 , 因此不標(biāo)注制造公差 , 只標(biāo)注最大 , 最小極限尺寸或公稱尺寸及其必要的形位公差 。 ’1.1.3保證機(jī)械互換性的理論正確尺寸( 注有“*”號的尺寸) , 按GB 1182-1184-80《 形狀和 位rN公差 》 中有關(guān)形位公差最大
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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