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GB/T 35316-2017 藍(lán)寶石晶體缺陷圖譜 Collection of metallographs on defects of sapphire crystal
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大小:
- 標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 35316-2017
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時間:2023-06-01
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡介
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了藍(lán)寶石品體缺陷的術(shù)語和定義、形貌特征及產(chǎn)生原因。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于藍(lán)寶石單晶材料制備中各種缺陷的檢驗和分析。GB/T 35316-2017
藍(lán)寶石晶體缺陷圖譜
Collection of metallographs on defects of sapphire crystal
2017-12-29發(fā) 布 2018-07-01實 施
中 華 人 民 共 和 國 國 家 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗 檢 疫 總 局 任 + 云 =
廠’“’、 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會‘K”’J
、 遙 蜀
GB/T 35316-2017
刖 旨
本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T 1.1-2009給出的規(guī)則起草 。
本標(biāo)準(zhǔn)由全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會 ( SAC/TC 203) 與全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)
化 技 術(shù) 委 員 會 材 料 分 技 術(shù) 委 員 會 ( SAC/TC 203/SC 2) 共 同 提 出 并 歸 口 .
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位:中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 、 上海大恒光學(xué)精密機(jī)械有限公司 、 中
國科學(xué)院新疆理化技術(shù)研究所 、
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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