GB/T 5095.2502-2021 電子設(shè)備用機(jī)電元件 基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法 第25-2部分:試驗(yàn)25b:衰減(插入損耗) Electromechanical components for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss)
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大?。?/li>
- 標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 5095.2502-2021
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2023-04-24
- 下載次數(shù):次
標(biāo)準(zhǔn)簡介
GB/T5095的本部分適用于電連接器、插座、電纜組件或互連系統(tǒng)。
本部分描述了測量作為頻率函數(shù)的衰減/插入損耗的頻域法和時(shí)域法。
注:本文件從始至終引用了“衰減”一詞。當(dāng)按樣品和傳輸線類型進(jìn)行測量的專業(yè)試驗(yàn)人員總結(jié)和報(bào)告試驗(yàn)測量結(jié) 果時(shí),必須使用合適的術(shù)語(衰減或插入損耗)。 5095.2502-2021 /IEC 60512-25-2:2002
電子設(shè)備用機(jī)電元件
基本試驗(yàn)規(guī)程及測量方法
第25-2部分:試驗(yàn)25b:衰減( 插入損耗)
Electromechanical components for electronic equipment-
Basic testing procedures and measuring methods-
Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss)
[IEC 60512-25-2: 2002, Connectors for electronic equipment-Tests and
measurements-Part 25-2: Test 25b: Attenuation(insertion loss), IDT]
2021-03-09發(fā) 布 2021-10-01實(shí) 施
妒 , 。 。 , , 、 國家市場監(jiān)督管理
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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