本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了透射電鏡（TEM）在很大放大倍率范圍內(nèi)所記錄的圖像的校準(zhǔn)方法。用于校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)具有周期性結(jié)構(gòu)，例如衍射光柵復(fù)型、半導(dǎo)體的超點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)或X射線分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于記錄在照相膠片上或成像板上或數(shù)字相機(jī)內(nèi)置傳感器采集的TEM圖像的放大倍率。本標(biāo)準(zhǔn)也可用于校準(zhǔn)標(biāo)尺，但不適用于專用的臨界尺寸測(cè)長(zhǎng)透射電鏡（CD-TEM）和掃描透射電鏡(STEM)。GB/T 34002-2017/ISO 29301:2010 微束分析透射電子顯微術(shù)用周期結(jié) 構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法 Microbeam analysis-Analytical transmission electron microscopy- 　 Methods for calibrating image magnification by using reference 　 　 　 　 　 　 　 　 materials having periodic structures (ISO 29301: 2010,IDT) 2017-07-12發(fā) 布 2018-06-01實(shí) 施 　 　 　 　 　 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗(yàn) 檢 疫 總 局 ‘ 疊 老 ， 、 嚴(yán) 、 中 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會(huì) 儀 ”p 囔邋 ？ GB/T 34002-2017/IS029301:2010 目 次 前 言