現代物理基礎叢書 X射線衍射動力學 理論與應用 麥振洪等著 2020年版
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現代物理基礎叢書 X射線衍射動力學 理論與應用 作者:麥振洪等著 出版時間: 2020年版 內容簡介 u3000u3000《X射線衍射動力學——理論與應用》全面介紹了X射線衍射動力學理論、衍射動力學效應、相關的實驗方法和實驗結果的分析以及應用實例?!禭射線衍射動力學——理論與應用》分3篇共15章:第1篇X射線衍射動力學理論(1~6章),簡單回顧X射線衍射動力學理論發(fā)展歷程,介紹完美晶體和畸變晶體X射線衍射動力學理論,并對近完美晶體X射線統計動力學理論和多束光X射線衍射動力學理論也作了簡單的介紹,使讀者對X射線衍射動力學理論有初步的了解。第2篇X射線動力學衍射現象(7~10章),主要介紹X射線衍射動力學理論預言,并得到實驗證實的衍射現象。這些現象無法應用X射線衍射運動學理論解釋,使讀者加深對X射線衍射動力學理論的認識。同時,介紹這些衍射現象的實用性。第3篇X射線衍射動力學理論應用(11~15章),主要介紹X射線衍射動力學理論在外延薄膜和多層膜微結構表征、X射線譜儀、晶體結構因子、微應力等精確測量、X射線形貌技術以及同步輻射光源的應用,使讀者初步掌握應用學到的知識用于自己的研究,學以致用。 目錄 目錄 序 前言 第1篇 X射線衍射動力學理論(1.6章 ) 第1章 X射線衍射動力學理論發(fā)展的簡單回顧 3 1.1 引言 3 1.2 X射線衍射運動學與動力學理論概述 5 1.2.1 X射線衍射運動學理論概述 5 1.2.2 X射線衍射動力學理論概述 6 參考文獻 8 第2章 完美晶體X射線衍射動力學理論I——平面波近似 10 2.1 晶體中周期性復數介質常數 10 2.1.1 均勻介質的色散公式 10 2.1.2 原子周期性分布的色散公式 11 2.1.3 有吸收情況下的色散公式 12 2.2 晶體內的波動方程 13 2.3 雙光束近似 16 2.4 色散面 19 2.5 入射邊界條件 24 2.6 晶體內波場振幅 27 2.6.1 晶體內任意一點的波場振幅 27 2.6.2 入射角與嚴格布拉格角偏離對波場振幅的影響 30 2.6.3 波場振幅的邊界條件 31 2.7 能流方向和坡印亭矢量 32 2.8 吸收 35 2.9 從晶體中出射波場的邊界條件 37 2.10 出射波場 39 2.10.1 出射束的透射系數T和反射系數 R 39 2.10.2 出射束強度沿出射面的分布 42 2.10.3 搖擺曲線 44 2.10.4 積分強度 47 2.11 平面波理論的局限性 48 參考文獻 49 第3章 完美晶體X射線衍射動力學理論II——球面波近似 50 3.1 球面波入射的雙光束近似及其在透明平行表面與楔形晶體中的散射 50 3.2 有吸收晶體 66 3.2.1 薄片平行晶體 69 3.2.2 厚平行晶體 70 參考文獻 72 第4章 畸變晶體X射線衍射動力學理論 73 4.1 引言 73 4.2 晶體中的調制波 74 4.3 高木方程 75 4.4 高木方程的Taupin形式 79 參考文獻 81 第5章 近完美晶體X射線衍射統計動力學理論 83 5.1 引言 83 5.2 基本方程 83 5.3 無限窄入射光束在晶體中激發(fā)的波場 88 5.4 應用實例 91 5.4.1 外延薄膜嵌鑲結構的測定 91 5.4.2 晶體中顆粒物的測定 94 參考文獻 97 第6章 X射線多光束衍射動力學理論 99 6.1 引言 99 6.2 多光束衍射幾何 99 6.2.1 三光束衍射幾何 99 6.2.2 立方晶系背反射中的多光束衍射 101 6.3 多光束衍射動力學理論和計算 102 6.3.1 晶體內外的電磁波矢量 102 6.3.2 晶體內的本征態(tài)電磁波 105 6.3.3 邊界條件 107 6.4 多光束衍射動力學計算例子 110 6.4.1 主衍射是消光衍射的迂回衍射 110 6.4.2 立方晶系晶體的連續(xù)多光束衍射入射平面 114 6.4.3 四光束衍射對應的面內衍射 119 參考文獻 121 第2篇 X射線動力學衍射現象(7.10章 ) 第7章 異常透射 125 7.1 異常透射現象 125 7.2 完美晶體內波場強度 126 7.3 應變晶體內波場強度 128 7.3.1 定量計算 129 參考文獻 131 第8章 Pendellosung干涉條紋 132 8.1 勞厄型 Pendellosung干涉條紋 132 8.1.1 Pendellosung干涉條紋的間距 136 8.1.2 Pendellosung干涉條紋的絕對位置 137 8.1.3 X射線偏振的影響——消衰現象 138 8.2 布拉格型 Pendellosung干涉條紋 139 8.2.1 布拉格型 Pendellosung干涉條紋的定義 139 8.2.2 Uragami 實驗的質疑 139 8.2.3 反射型 Pendellosung干涉條紋新的實驗 143 參考文獻 146 第9章 Borrmann-Lehmann干涉現象 148 9.1 引言 148 9.2 晶體波場的球面波解 149 9.2.1 Laue情況下的波場表達式 150 9.2.2 晶體邊緣的反射和透射 154 9.3 吸收效應 158 9.4 波場強度與 B-L 干涉條紋圖樣 159 9.4.1 波場強度表達式 160 9.4.2 Pendellosung干涉條紋和Borrmann-Lehmann干涉條紋間距表達式 161 9.4.3 強度分布曲線計算 166 9.4.4 不同吸收情況Borrmann扇形內X射線波場強度分布 167 9.5 Borrmann-Lehmann干涉條紋的計算機模擬 169 9.6 小結 171 參考文獻 171 第10章 其他衍射動力學效應 172 10.1 X射線偏振的影響——消衰現象 172 10.2 邊緣效應 175 10.3 初級消光、次級消光 176 10.3.1 初級消光 177 10.3.2 次級消光 177 10.3.3 初級消光、次級消光與其他消光的區(qū)別 178 10.3.4 按消光效應分類晶體 178 參考文獻 179 第3篇 X射線衍射動力學理論應用(11.15章 ) 第11章 外延薄膜和多層膜微結構表征 183 11.1 引言 183 11.2 薄膜雙軸晶衍射搖擺曲線的理論計算 184 11.2.1 布拉格幾何晶體內波場振幅 184 11.2.2 無吸收晶體的反射率 185 11.2.3 有吸收晶體的反射率 186 11.2.4 雙軸晶衍射搖擺曲線的理論計算 187 11.3 多層膜結構材料反射率的X射線衍射動力學理論計算 188 11.3.1 概述 188 11.3.2 外延材料反射率的X射線衍射動力學理論解 189 11.3.3 迭代公式中參數的計算 192 11.4 應變弛豫超晶格的X射線雙軸晶搖擺曲線計算 197 11.4.1 弛豫機制與應變分布 197 11.5 影響X射線雙軸晶搖擺曲線的因素 199 11.5.1 X射線偏振態(tài)的影響 200 11.5.2 外延膜與襯底取向差的影響 201 11.5.3 晶體表面偏角的影響 202 11.5.4 晶格失配對衍射峰形的展寬 205 11.5.5 薄膜界面粗糙的影響 205 11.5.6 薄膜成分梯度的影響 208 11.6 應用實例 209 11.6.1 薄膜層厚 209 11.6.2 外延膜晶格參數,成分 213 11.6.3 應變弛豫 215 參考文獻 221 第12章 X射線譜儀——單色器和分析器的原理和設計 223 12.1 單晶衍射計算和 DuMond 圖 223 12.2 單晶和雙晶單色器 227 12.2.1 單晶單色器 227 12.2.2 雙晶單色器 229 12.3 四晶單色器 234 12.3.1 四晶 Bartels單色器 234 12.3.2 嵌套切槽單色器 237 12.3.3 四晶色散型超高分辨單色器 239 12.4 X射線光譜分析器 241 12.4.1 von Hamos分析器 242 12.4.2 高分辨近背反射球狀分析器 243 參考文獻 245 第13章 Pendellosung Frings用于晶體結構精確測量 246 13.1 應用 Pendellosung干涉條紋測定晶體結構因子 246 13.1.1 X射線截面形貌圖 246 13.1.2 X射線透射掃描形貌圖 248 13.1.3 實驗結果 250 13.1.4 Pendellosung干涉條紋測量方法的誤差分析 250 13.2 Pendellosung干涉條紋結合干涉儀條紋測定晶體結構因子 254 參考文獻 255 第14章 X射線形貌技術 257 14.1 引言 257 14.2 X射線形貌實驗技術 257 14.2.1 X射線形貌術定義和分類 257 14.2.2 柏爾格{白瑞特反射形貌術 258 14.2.3 X射線透射形貌術(Lang 透射形貌術) 260 14.2.4 X射線雙軸晶形貌術 266 14.2.5 X射線異常透射形貌術 269 14.3 X射線衍襯成像理論 270 14.3.1 X射線與電子射線衍襯像的區(qū)別 270 14.3.2 X射線形貌術衍襯像形成原理 271 14.3.3 完美晶體的X射線成像衍襯分析 272 14.4 X射線形貌像分辨率 287 14.4.1 X射線源的大小和波長發(fā)散度的影響 287 14.4.2 探測器的影響 289 參考文獻 292 第15章 同步輻射光源的應用 293 15.1 同步輻射光源 293 15.2 同步輻射X射線形貌術 297 15.2.1 白光透射形貌術 297 15.2.2 單色光形貌術 300 15.2.3 同步輻射截面形貌術測定晶體中微包裹物 301 15.3 X射線干涉儀 305 15.3.1 X射線干涉儀的原理 305 15.3.2 晶體缺陷的研究 308 15.3.3 晶體晶格參數的絕對測量 309 15.4 X射線駐波 310 15.4.1 X射線駐波產生的原理 311 15.4.2 X射線駐波實驗的設計 312 參考文獻 313 后記 314 《現代物理基礎叢書》已出版書目 316
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