納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編 第二版 出版時(shí)間：2010年版 內(nèi)容簡(jiǎn)介 《納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編（第2版）》收集了截至2010年6月底批準(zhǔn)、發(fā)布的納米國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)共37項(xiàng)。與前一版相比，新增標(biāo)準(zhǔn)10項(xiàng)，修訂標(biāo)準(zhǔn)5項(xiàng)。本匯編收集的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的屬性已在本目錄上標(biāo)明（強(qiáng)制性或推薦性），年號(hào)用四位數(shù)字表示。由于所收錄標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布年代不盡相同，我們對(duì)標(biāo)準(zhǔn)中所涉及到的有關(guān)量和單位的表示方法未做統(tǒng)一改動(dòng)?！都{米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)匯編（第2版）》可供與納米技術(shù)相關(guān)的科研、生產(chǎn)、檢驗(yàn)的技術(shù)人員和各管理部門的相關(guān)人員使用，也可供大中專院校相關(guān)專業(yè)的師生參考。 目錄 一、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn) GB／T 17507-2008透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件 GB／T 18735-2002 分析電鏡（AEM／EDs）納米薄標(biāo)樣通用規(guī)范 GB／T 19619-2004納米材料術(shù)語(yǔ) 二、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn) GB／T 1934：5-2003非晶、納米晶軟磁合金帶材 GB／T 19588-2004納米鎳粉 GB／T 19589-2004納米氧化鋅 GB／T 19590-2004超微細(xì)碳酸鈣 GB／T 19591-2004納米二氧化鈦 GB／T 24491-2009多壁碳納米管 三、試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn) GB／T 6524-2003金屬粉末粒度分布的測(cè)量重力沉降光透法 GB／T 10722-2003炭黑總表面積和外表面積的測(cè)定氮吸附法 GB／T 11847-2008二氧化鈾粉末比表面積測(cè)定BET容量法 GB／T 12334-2001金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則 GB／7、13221-2004納米粉末粒度分布的測(cè)定X射線小角散射法 GB／T 13390-2008金屬粉末比表面積的測(cè)定氮吸附法 GB／T 18873-2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則 GB／T 18907-2002透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法 GB／T 19077．1-2008粒度分析激光衍射法第1部分：通則 GB／T 19346-2003非晶納米晶軟磁合金交流磁性能測(cè)試方法 GB／T 19587-2004氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積 GB／T 19627-2005粒度分析光子相關(guān)光譜法 GB／T 19921-2005硅拋光片表面顆粒測(cè)試方法 GB／l、19922-2005硅片局部平整度非接觸式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法 GB／T 20099-2006樣品制備粉末在液體中的分散方法 GB／T 20170．1-2006稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法稀土化合物粒度分布的測(cè)定 GB／T 20170．2-2006稀土金屬及其化合物物理性能測(cè)試方法稀土化合物比表面積的測(cè)定 GB／T 20307-2006納米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則 GB／T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則 GB／T 21510-2008納米無機(jī)材料抗菌性能檢測(cè)方法 GB／T 22458-2008儀器化納米壓入試驗(yàn)方法通則 GB／T 22462-2008鋼表面納米、亞微米尺度薄膜元素深度分布的定量測(cè)定輝光放電原子發(fā)射光譜法 GB／T 22925-2009納米技術(shù)處理服裝 GB／T 23413-2009納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定X射線衍射線寬化法 GB／T 24369．1-2009金納米棒表征第1部分：紫外／可見／近紅外吸收光譜方法 GB／T 24370一2009硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體表征紫外一可見吸收光譜方法 GB／T 24490-2009多壁碳納米管純度的測(cè)量方法 GB／Z 21738-2008一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法