ICS 19.100N 77備案號(hào): 44535--2014JB中華人民共和國(guó)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T 11606- -2013無(wú)損檢測(cè)儀器金 屬磁記憶檢測(cè)儀性能試驗(yàn)方法Non-destructive testing instruments-Metal magnetic memory instrument verification2013-12-31發(fā)布2014-07-01實(shí)施中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部發(fā)布JB/T 11606- -2013目.............................................................1范圍..3術(shù)語(yǔ)和定......... I4試驗(yàn)條件5試驗(yàn)項(xiàng)目6試驗(yàn)設(shè)備........7試驗(yàn)方法..7.1磁場(chǎng)測(cè) 最相對(duì)誤差試驗(yàn)....7.2位 置測(cè)量相對(duì)誤差試驗(yàn)7.4位置 分辨力試驗(yàn)........7.5耐溢 試驗(yàn).7.6耐濕 試驗(yàn)7.7運(yùn)輸試驗(yàn)....圖1磁記憶探頭小車(chē) 移動(dòng)軌道示意圖.表1耐溫耐濕試驗(yàn)參 數(shù)..........JB/T 11606- -2013前言本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T 1.1 - 2009給 出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械T.業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)試驗(yàn)機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SACTC122)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:愛(ài)德森(廈門(mén))電子有限公司、遼寧儀表研究所、深圳華測(cè)檢測(cè)技術(shù)股份有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:林俊明、李洪國(guó)、萬(wàn)峰、趙晉成、李寒林。本標(biāo)準(zhǔn)為首次發(fā)布。JB/T 11606- 2013無(wú)損檢測(cè)儀器金 屬磁記憶檢測(cè)儀性 能試驗(yàn)方法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬磁記憶檢測(cè)儀(以下簡(jiǎn)稱(chēng)儀器)的性能試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用」數(shù)字式金屬磁記憶檢測(cè)儀。2規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注8期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T 12604.10無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)磁記憶檢測(cè)GB/T25480 2010 儀器儀表運(yùn)輸、 貯存基本環(huán)境條件及試驗(yàn)方法3術(shù)語(yǔ)和定義GB/T 12604.10界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。4試驗(yàn)條件儀器應(yīng)在下列條件下正常工作:a)環(huán)境溫度-25C~55'C;b)相對(duì)濕度不大于80%: .c)電源電壓AC 220 V+ 10V: :d)電源頻率為50 Hz士1 Hz.5試驗(yàn)項(xiàng)目?jī)x器試驗(yàn)項(xiàng)目如下:a)磁場(chǎng)測(cè)量相對(duì)誤差:b)位置測(cè)量相對(duì)誤差;c)測(cè)量范圍:d)測(cè)量通道數(shù)量:e)增益;f)顯示方式;g)位置測(cè)量分辨力。6試驗(yàn)設(shè)備試驗(yàn)需要下列儀器儀表:。05級(jí)或伏05級(jí)的亦，吉流中床表和中流夷，JB/T 11606- -2013b)信號(hào)發(fā)生器:幅度誤差不大于2%，頻率誤差不大于0.1%;c)1級(jí)或優(yōu)于1級(jí)的千分表和扭簧比較儀:d)不低于50MHz雙蹤示波器;e)頻率計(jì)或頻譜分析儀。7試驗(yàn)方法7.1 磁場(chǎng)測(cè)量相對(duì)誤差試驗(yàn)磁場(chǎng)測(cè)量相對(duì)誤差試驗(yàn)步驟如下:a)將儀器放置標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)Ho [單位為安每米(A/m)]中，標(biāo)準(zhǔn)磁場(chǎng)大小應(yīng)在儀器磁場(chǎng)測(cè)量范圍之內(nèi):b)磁記憶數(shù)據(jù)校準(zhǔn)設(shè)為“大地磁場(chǎng)”:c)將探頭歸- -化之后顯示的數(shù)值記錄為Hp [單位為安每米(Am)]。磁場(chǎng)測(cè)量的相對(duì)誤差計(jì)算方法見(jiàn)公式(1):(Hp- Ho)OHp =HoIx 100% ..................... (1)7.2位置測(cè)量相對(duì)誤差試驗(yàn)位置測(cè)量相對(duì)誤差試驗(yàn)步驟如下:a)磁記憶數(shù)據(jù)校準(zhǔn)設(shè)為“大地磁場(chǎng)”。b)測(cè)長(zhǎng)計(jì)數(shù)顯示設(shè)為“開(kāi)”。c)將小車(chē)放置在帶有精確刻度的軌道上，軌道長(zhǎng)500mm,如圖1所示。沿著軌道白刻度為0mm的地方開(kāi)始走動(dòng)，當(dāng)走到軌道500 mm的地方，記錄此時(shí)屏幕上顯示的測(cè)最長(zhǎng)度s [單位為毫米(mm)]。位置測(cè)量的相對(duì)誤差計(jì)算方法見(jiàn)公式(2): .(S- 500)AS=x 100% ....................... (2)5007.3 噪聲試驗(yàn)噪聲試驗(yàn)步驟如下:a)將儀器放置在磁屏蔽箱中: .c)將探頭歸一化之后，把探頭放置在與歸-化磁場(chǎng)方向 飛真的水平位置，則此時(shí)測(cè)出來(lái)的數(shù)值Hp就是磁記憶檢測(cè)的噪聲。7.4位置 分辨力試驗(yàn)位置分辨力試驗(yàn)步驟如下:b)測(cè)長(zhǎng)計(jì)數(shù)顯示設(shè)為“開(kāi)"。c)將小車(chē)放置在帶有精確刻度的軌道上，軌道長(zhǎng)500 mm,如圖↓所示。沿著軌道自刻度為0 mm的地方開(kāi)始走動(dòng)，當(dāng)走到鋼真尺上L [單位為毫米(mm)]的位置時(shí)，記錄采樣點(diǎn)數(shù)N。位置分辨力計(jì)算方法見(jiàn)公式(3):NJB/T 11606- -2013)500mm500，塵軍0一墊圖1磁記憶探頭小車(chē) 移動(dòng)軌道示意團(tuán)7.5耐溫試驗(yàn)7.5.1概述在進(jìn)行耐溫試驗(yàn)時(shí)，高、低溫箱內(nèi)的溫度應(yīng)保持恒定均勻，溫差不超過(guò)士3C，箱內(nèi)空間至少應(yīng)為被檢儀器的3倍。為防止?jié)穸鹊挠绊?，在不影響耐溫試?yàn)的條件下，必要時(shí)，宜采取對(duì)高、低溫箱密封或注入干燥空氣等措施。7.5.2高溫試驗(yàn)將儀器放入高溫箱內(nèi)，試驗(yàn)參數(shù)見(jiàn)表1.高溫試驗(yàn)后，使溫度降至室溫，取出儀器并在正常工作條件下放置24 h以上，再對(duì)儀器進(jìn)行性能試驗(yàn)，其性能仍應(yīng)滿足4.3.1.4.3.2 的要求。表1耐溫耐濕試驗(yàn)參數(shù)溫度試驗(yàn)濕度試驗(yàn)高溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn)試驗(yàn)溫度保持時(shí)間升溫速度降溫速度相對(duì)濕度hC/min55=3≤I-25=3247.5.3低溫試驗(yàn)將儀器放入低溫箱內(nèi)，試驗(yàn)參數(shù)見(jiàn)表1.低溫試驗(yàn)后，使溫度升至室溫，使溫度升至室溫，取出儀器并在正常工作條件下放置24 h以上，再對(duì)儀器進(jìn)行性能試驗(yàn)，其性能仍應(yīng)滿足4.3的要求( 低溫試驗(yàn)后，若儀器有凝水現(xiàn)象，應(yīng)適當(dāng)延長(zhǎng)預(yù)熱時(shí)間或采用風(fēng)扇通風(fēng)等其他方法迅速去潮)。7.6耐濕試驗(yàn)?zāi)蜐裥阅艿臋z測(cè)萬(wàn)j法應(yīng)按GB/T 25480- 2010 中4.4執(zhí)行，試驗(yàn)后再對(duì)儀器進(jìn)行性能試驗(yàn)，其性能仍應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)4.3的要求。7.7 運(yùn)輸試驗(yàn)運(yùn)輸性能的試驗(yàn)項(xiàng)目和方法應(yīng)按GB/T 25480- 2010 中第4章執(zhí)行,試驗(yàn)后再對(duì)儀器進(jìn)行性能試驗(yàn)，其性能仍應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)4.3的要求。